Oxford Instruments - Innovation For All Our Futures

Oxford Instruments

Московское представительство

105005 Москва, Денисовский пер. 26

тел. (095) 933 51 23; факс: (095) 933 51 24;

Главная

Платформа INCA

ЭДС INCA Energy

ВДС INCA Wave

Детекторы ЭДС

EDS tutorial

WDS tutorial

EBSD tutorial

 

 

X-MaxTEM

Кремний-дрейфовый (SDD) детектор с большой активной площадью и МАКСимальной эффективностью регистации

для Вашего аналитического ПЭМ

 

 

·     Новый SDD детектор X-Max с активной площадью кристалла 80мм2

·     Гарантированные характеристики разрешения по энергии (127эВ, Mn Ка)

·     Типичное разрешение по энергии - 125эВ на линии Mn Ка, 60эВ на линии С Ка

·     Определение любых элементов от бериллия

·     Моторизованный слайдер

·     Не требуют жидкого азота для охлаждения – только подключение к электроэнергии

·     Охлаждение по первому требованию, за секунды

image006

 

 

Гарантирована стабильность позиции пика  <1eV @Mn Ka и стабильность разрешения <1eV @Mn Ka при скорости счета

от 1000 до 100 000имп/сек

Надежный качественный и количественный анализ при скорости счета от 1000 до 200 000 имп/сек

Быстрое элементное картирование

Точное отображение химических вариаций

Определение любых элементов от бериллия

Детектор SDD, соответствующие стандарту ISO 15632:2002.

Нет движущихся частей – отсутствие признаков вибрации при больших увеличениях

 

 

Большой телесный угол SDD означает высочайшую скорость счета без компромиссов по разрешению

 

Высокие характеристики на НАНО уровне

X-Max – новый революционный кремний-дрейфовый детектор (SDD) компании Oxford Instruments - теперь доступен и для аналитических просвечивающих электронных микроскопов. Этот детектор, оснащенный сенсором площадью 80мм2,  демонстрирует лучшие значения телесных углов по сравнению с любым другим SDD для ПЭМ. В дополнение к впечатляющему спектральному разрешению, особенно в области малых энергий, его способность работать на высоких скоростях счета без использования жидкого азота для охлаждения ставит его на ступень лидера в области самых передовых технологий производства детекторов. В комбинации с программой NCAEnergyTEM детектор Х-Мах обеспечивает максимальные аналитические характеристики для любого ПЭМ

 

Лучший телесный угол для SDD

Сенсор 80mm2 гарантирует высокую скорость счета в сочетание с превосходными аналитическим характеристиками – от бериллия включительно. В отличие от Si(Li) детекторов высокое разрешение сохраняется при скоростях счета более 100 000 имп/сек.  

Такие скорости счета позволяют получать карты и профили распределения элементов на относительно толстых образцах, где высокая интенсивность сигнала обычно вызывает отключение Si(Li) детекторов.  Нет необходимости снижать ток зонда. Хорошие карты и профили можно получать значительно быстрее. 

 

Не требуется жидкий азот

X-Max охлаждается модулем Пельтье и не требует жидкого азота

Охлаждается за секунды и всегда готов к работе

Нет движущихся частей и нет кипящего азота – т.е. нет источников вибрации

Моторизованный слайдер автоматически выдвигает детектор при слишком большом потоке электронов на малых увеличениях  

Безопасен, удобен и не загрязняет среду

 

 

Непревзойденный уровень качественного и количественного анализа

SDD технология X-Max и программа INCAEnergyTEM обеспечивают дружелюбную платформу даже для неопытного пользователя, в то же время сохраняя необходимый уровень глубины для экспертов в области микроанализа:

 

• Быстрый и точный количественный анализ с использованием модифицированного алгоритма Клифа-Лоримера для тонких и толстых образцов, включая заданные оператором k-факторы, используемые отдельно, либо в комбинации теоретическими значениями.  

• Поправки на плотность и толщину можно применять для образцов толщиной более 100нм 

• Smartmap – для быстрого получения карт и профилей распределения элементов со стандартной фунцией сохранения полного спектра в каждой точке 

• Point&ID – для точного позиционирования электронного зонда при получении спектров и для автоматического анализа

• AutoID – надежная система идентификации пиков при любых скоростях счета 

• Sitelock -  автоматическая компенсация дрейфа пучка и сдвига образца при выполнении длительных исследований

• Автоматичесая коррекция пиков суммирования для удаления характерных для высоких скоростей счета артефактов спектра

 

 

В зависимости от технических требований и бюджета Inca Energy для ПЭМ  поставляется в нескольких стандартных конфигурациях:

 

      Inca Energy  TEM 100 (IET100) – детектор и базовый набор программ , необходимых для качественного и количественного химического микроанализа без возможности управления пучком ПЭМ. Включает навигатор Анализатор.

      Inca Energy  TEM 250 (IET250)* -  то же , что в IET100 плюс возможности захвата изображения и управления электронным зондом (навигатор Point and ID), картирование и получение профилей распредлеления элементов. Включает программу коррекции дрейфа изображения (SiteLock), навигаторы Анализатор, Картирование, Point and ID.

      Inca Energy  TEM 350 (IET350)* - то же , что в IET250 плюс дополнительные возможности для картирования – количественные карты, анализ фаз. Включает программу коррекции дрейфа изображения (SiteLock), навигаторы Картирование, Point and ID, Quantmap, программы PaseMap, «Линии и Сетки», Cameo.

* -требуется блок STEM

 

 

Расширение возможностей (опции)

Большой телесный угол и использование высоких скоростей счета позволяют использовать дополнительные иструменты обработки карт распределения элементов, обычно доступные лишь для РЭМ:

QuantMap

QuantMap предоставляет данные для количественного картирования. В каждом пикселе вводятся поправки на мертвое время, матричные поправки, корректируются пики суммирования и наложения пиков. QuantMap гарантирует правильность представления концентраций элементов на картах, даже когда пики элементов перекрываются. 

PhaseMap

PhaseMap предоставляет удобный метод идентификации распределения составляющих образец фаз и химического состава фаз.

Cameo+

Быстрый и воспроизводимый способ цветного отображения фаз образца на основе спектра видимого света наложенного на участок ренгеновского спектра.

 

Брошюра X-MAX TEM pdf , англ.