HOME

ГЛАВНАЯ

AZTEC

INCA

ЭДС

EBSD

ВДС

OTHER PRODUCTS

APPLICATIONS

КОНТАКТЫ

 

АЦТЕК – новая программная оболочка для электронно-зондового микроанализа на базе ОС ОС Windows 7 (64 бит)

EBSD Systems

EDS Systems

WDS Systems

 

 

 

 

 

АЦТЕК

 

Вы еще не видели столь мощную и гибкую систему анализа материалов!

 

АЦТЕК  высвобождает потенциал последних поколений  SDD-детекторов большой площади и быстрых камер EBSD.

 

Создан на основе 40-летнего опыта разработки систем микроанализа и с учетом мнения самого большого в мире микроаналитического сообщества!

 

АЦТЕК – это все то, что Вы могли бы ожидать от Oxford Instruments.

 

Только лучше.

 

Подробности можно узнать ЗДЕСЬ

ИНКА - универсальная платформа для электронно-зондового микроанализа, теперь на базе ОС Windows 7

Системы ЭДС

Системы ВДС

Cистемы EBSD

Система ИНКА компании Oxford Instruments – надежная и наиболее распространенная в мире платформа электронно-зондового микроанализа для растровых и просвечивающих электронных микроскопов.

 

АЦТЕК и ИНКА могут работать совместно на одном и том же ПК..

 

Современное программное обеспечение и передовые технологии производства детекторов для энергодисперсионного (ЭДС) и волнодисперсионного (ВДС) микроанализа, а также анализа дифракции отраженных электронов (ДОЭ/EBSD)  интегрированы на базе единой платформы ИНКА.

 

Подробности можно узнать ЗДЕСЬ

X-MAX – новое поколение рентгеновских детекторов с уникальными характеристиками для РЭМ и ПЭМ

 

Системы ЭДС

Системы ВДС

Cистемы EBSD

С детекторами X-MAX 80мм2 больше не нужно подстраивать условия наблюдения в электронном микроскопе под характеристики детектора ЭДС – получайте изображение  наилучшего качества при малых токах зонда, а точный и быстрый микроанализ теперь возможен при любых условиях

 

·         SDD детекторы X-Max и X-ACT с активной площадью кристаллов, на выбор – 10, 20, 50, 80мм2

·         Гарантированные характеристики разрешения по энергии не зависят от площади кристаллов

·         Определение любых элементов от бериллия

·         Не требуют жидкого азота для охлаждения – только подключение к электроэнергии

·         Охлаждение по первому требованию, за секунды

 

Подробности можно узнать ЗДЕСЬ

INCA Wave - Оборудование и программы для волнодисперсионного (ВДС) микроанализа

            

Системы ЭДС

Системы ВДС

Cистемы EBSD

INCA Wave – лучший в мире волнодисперсионный рентгеновский спектрометр, специально сконструированный для точного количественного анализа химического состава при установке на РЭМ.

 

·         Микроанализ приблизительно в десять раз более чувствительный по сравнению с ЭДС

·         Анализ элементов-примесей (< 0.1 - <0.01%)

·         Спектральное разрешение  от 2-3 до 50 эВ – на порядок лучше ЭДС

·         Разделение близко расположенных пиков

·         Точная идентификация пиков

·         Наилучшая чувствительность для анализа легких элементов

·        Рентгеновское картирование с наилучшим отношением пик/фон

Подробности можно узнать ЗДЕСЬ

AZtecHKL – система анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ – EBSD)

      

Системы ЭДС

Системы ВДС

Cистемы EBSD

AZTEC HKLсистема анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ - EBSD) для изучения структуры и текстуры материалов.

 

AZTEC Synergy – интегрированная система на базе детекторов ЭДС и EBSD.

 

  • Удобный и простой в использовании пользовательский интерфейс
  • Возможность одновременного использования методов ДОРЭ и ЭДС микроанализа для автоматической идентификации фаз и картирования (карты распределения фаз, карты ориентации кристаллитов, рентгеновские карты распределения элементов)

·         В каждой точке карты осуществляется накопление полного спектра ЭДС и картины ДОРЭ.

 

Подробности можно узнать ЗДЕСЬ

 

INCA Energy – оборудование и программы для энергодисперсионного (ЭДС)  микроанализа

 

INCA Wave - Оборудование и программы для волнодисперсионного (ВДС) микроанализа

 

INCA Energy+  - программная платформа  для интеграции управления ЭД и ВД спектрометрами

 

AZTEC HKL b Channel 5 - системs анализа материалов методом дифракции отраженных электронов  (EBSD)

 

 

Московское представительство Oxford Instruments

105005 Москва, Денисовский пер. 26

тел.  +(495) 933 51 23

Московский офис компании представляет подразделение Oxford Instruments NanoAnalysis и специализируется исключительно на продвижении и поддержке приборов для электронно-зондового микроанализа

© COPYRIGHT STATEMENT  REGULATORY INFORMATION  TERMS & CONDITIONS  PRIVACY  ETHICAL POLICY  DISCLAIMER