|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
АЦТЕК – новая
программная оболочка для электронно-зондового микроанализа на базе ОС ОС Windows 7 (64 бит) |
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||||||
|
АЦТЕК … Вы еще не видели столь мощную и гибкую систему анализа
материалов! АЦТЕК высвобождает потенциал последних
поколений SDD-детекторов большой
площади и быстрых камер EBSD. Создан на основе 40-летнего опыта разработки систем
микроанализа и с учетом мнения самого большого в мире микроаналитического
сообщества! АЦТЕК – это все то, что Вы могли бы ожидать от Oxford Instruments. Только лучше. Подробности
можно узнать ЗДЕСЬ |
||||||||||||||||||||||
|
ИНКА - универсальная платформа для
электронно-зондового микроанализа, теперь на базе ОС Windows 7 |
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
Система ИНКА
компании Oxford Instruments – надежная и
наиболее распространенная в мире платформа электронно-зондового микроанализа
для растровых и просвечивающих электронных микроскопов АЦТЕК и ИНКА могут работать совместно на одном и том же
ПК.. Современное программное обеспечение и передовые
технологии производства детекторов для энергодисперсионного (ЭДС) и
волнодисперсионного (ВДС) микроанализа, а также анализа дифракции отраженных
электронов (ДОЭ/EBSD)
интегрированы на базе единой платформы ИНКА. Подробности
можно узнать ЗДЕСЬ |
|||||||||||||||||||||
|
X-MAX – новое поколение рентгеновских детекторов с
уникальными характеристиками для РЭМ и ПЭМ |
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
С детекторами X-MAX 80мм2 больше не нужно подстраивать условия наблюдения в
электронном микроскопе под характеристики детектора ЭДС – получайте
изображение наилучшего качества при малых
токах зонда, а точный и быстрый микроанализ теперь возможен при любых
условиях ·
SDD детекторы X-Max и X-ACT с активной
площадью кристаллов, на выбор – 10, 20, 50, 80мм2 ·
Гарантированные
характеристики разрешения по энергии не зависят от площади кристаллов ·
Определение любых
элементов от бериллия ·
Не требуют жидкого
азота для охлаждения – только подключение к электроэнергии ·
Охлаждение по первому
требованию, за секунды Подробности
можно узнать ЗДЕСЬ |
||||||||||||||||||||||
|
INCA Wave -
Оборудование и программы для волнодисперсионного (ВДС) микроанализа |
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
INCA Wave – лучший в мире
волнодисперсионный рентгеновский спектрометр, специально сконструированный
для точного количественного анализа химического состава при установке на РЭМ. ·
Микроанализ приблизительно в десять раз более чувствительный по
сравнению с ЭДС ·
Анализ элементов-примесей (< 0.1 - <0.01%) ·
Спектральное разрешение от 2-3 до 50 эВ – на порядок лучше ЭДС ·
Разделение близко расположенных пиков ·
Точная идентификация пиков ·
Наилучшая чувствительность для анализа легких элементов · Рентгеновское картирование с наилучшим отношением пик/фон Подробности можно узнать ЗДЕСЬ |
||||||||||||||||||||||
|
AZtecHKL – система анализа картин дифракции
обратно рассеянных электронов (ДОРЭ – EBSD) |
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
AZTEC HKL – система анализа
картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ - EBSD) для изучения структуры и текстуры материалов. AZTEC Synergy – интегрированная система на базе детекторов ЭДС и EBSD.
·
В каждой точке карты осуществляется накопление полного
спектра ЭДС и картины ДОРЭ. Подробности можно
узнать ЗДЕСЬ |
|
|||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
INCA Energy – оборудование и
программы для энергодисперсионного (ЭДС) микроанализа INCA Wave - Оборудование и
программы для волнодисперсионного (ВДС) микроанализа INCA Energy+ - программная платформа для интеграции управления ЭД и ВД спектрометрами AZTEC HKL b Channel 5 - системs анализа материалов методом дифракции отраженных электронов (EBSD) |
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||
|
Московское представительство Oxford Instruments 105005 Москва, Денисовский пер. 26 тел.
+(495) 933 51 23
|
||||||||||||||||||||||
|
Московский офис компании представляет
подразделение Oxford Instruments NanoAnalysis и специализируется
исключительно на продвижении и поддержке приборов для электронно-зондового
микроанализа |
||||||||||||||||||||||
|
© COPYRIGHT STATEMENT REGULATORY
INFORMATION TERMS
& CONDITIONS PRIVACY ETHICAL POLICY DISCLAIMER |
||||||||||||||||||||||