АЦТЕК – новая программная оболочка для электронно-зондового микроанализа на базе ОС ОС Windows 7 (64 бит)
EBSD Systems EDS Systems WDS Systems
АЦТЕК … Вы еще не видели столь мощную и гибкую систему анализа материалов! АЦТЕК высвобождает потенциал последних поколений SDD-детекторов большой площади и быстрых камер EBSD. Создан на основе 40-летнего опыта разработки систем микроанализа и с учетом мнения самого большого в мире микроаналитического сообщества! АЦТЕК – это все то, что Вы могли бы ожидать от Oxford Instruments. Только лучше. Подробности можно узнать ЗДЕСЬ
ИНКА - универсальная платформа для электронно-зондового микроанализа, теперь на базе ОС Windows 7 (64 бит)
EBSD Systems EDS Systems WDS Systems
	Система ИНКА компании Oxford Instruments – надежная и наиболее распространенная в мире платформа электронно-зондового микроанализа для растровых и просвечивающих электронных микроскопов. АЦТЕК и ИНКА могут работать совместно на одном и том же ПК.. Современное программное обеспечение и передовые технологии производства детекторов для энергодисперсионного (ЭДС) и волнодисперсионного (ВДС) микроанализа, а также анализа дифракции отраженных электронов (ДОЭ/EBSD) интегрированы на базе единой платформы ИНКА. Подробности можно узнать ЗДЕСЬ
X-MAX – новое поколение рентгеновских детекторов с уникальными характеристиками для РЭМ и ПЭМ
EBSD Systems EDS Systems WDS Systems
С детекторами X-MAX 80мм^2 больше не нужно подстраивать условия наблюдения в электронном микроскопе под характеристики детектора ЭДС – получайте изображение наилучшего качества при малых токах зонда, а точный и быстрый микроанализ теперь возможен при любых условиях · SDD детекторы X-Max и X-ACT с активной площадью кристаллов, на выбор – 10, 20, 50, 80мм^2 · Гарантированные характеристики разрешения по энергии не зависят от площади кристаллов · Определение любых элементов от бериллия · Не требуют жидкого азота для охлаждения – только подключение к электроэнергии · Охлаждение по первому требованию, за секунды Подробности можно узнать ЗДЕСЬ
INCA Wave - Оборудование и программы для волнодисперсионного (ВДС) микроанализа
EBSD Systems EDS Systems WDS Systems
INCA Wave – лучший в мире волнодисперсионный рентгеновский спектрометр, специально сконструированный для точного количественного анализа химического состава при установке на РЭМ. · Микроанализ приблизительно в десять раз более чувствительный по сравнению с ЭДС · Анализ элементов-примесей (< 0.1 - <0.01%) · Спектральное разрешение  от 2-3 до 50 эВ – на порядок лучше ЭДС · Разделение близко расположенных пиков · Точная идентификация пиков · Наилучшая чувствительность для анализа легких элементов · Рентгеновское картирование с наилучшим отношением пик/фон Подробности можно узнать ЗДЕСЬ
AZtecHKL – система анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ – EBSD)
EBSD Systems EDS Systems WDS Systems
AZTEC HKL – система анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов (ДОРЭ - EBSD) для изучения структуры и текстуры материалов. AZTEC Synergy – интегрированная система на базе детекторов ЭДС и EBSD. · Удобный и простой в использовании пользовательский интерфейс · Возможность одновременного использования методов ДОРЭ и ЭДС микроанализа для автоматической идентификации фаз и картирования (карты распределения фаз, карты ориентации кристаллитов, рентгеновские карты распределения элементов) · В каждой точке карты осуществляется накопление полного спектра ЭДС и картины ДОРЭ. Подробности можно узнать ЗДЕСЬ
OMNIPROBE – устройства и системы наноманипуляции
Оборудование Omniprobe
Omniprobe, Inc. - подразделение группы компаний Oxford Instruments - лидер в производстве принадлежностей к электронным и ионным микроскопам для нанотехнологических лабораторий. Оборудование Omniprobe включает: · Наноманипуляторы AutoProbe™ · Газовые инжекционные системы OmniGIS™ · Системы перемещения и хранения образцов в контролируемой среде - SST™, GLL™ · Системы подготовки образцов для ПЭМ - Short-Cut™ Подробности можно узнать ЗДЕСЬ
Московское представительство Oxford Instruments 105005 Москва, Денисовский пер. 26 тел. +(495) 933 51 23
Московский офис компании представляет подразделение Oxford Instruments NanoAnalysis и специализируется исключительно на продвижении и поддержке приборов для электронно-зондового микроанализа
© COPYRIGHT STATEMENT REGULATORY INFORMATION TERMS & CONDITIONS PRIVACY ETHICAL POLICY DISCLAIMER